Planar

è uno strumento di misura estremamente semplice, nella composizione e nell’utiliz-zo. Formato da 5 sensori ottici (AP061) inte-ramente realizzati da Appel s.r.l., o in alter-nativa sensori Laser ideali per la lettura in condizioni difficili ( materiali scuri, struttu-rati), un piccolo quadro elettrico che può essere situato anche a distanza dall’ap-parecchiatura e da un comodo ed intui-tivo display TOUCH-SCREEN dotato di am-pio e luminoso display (7”, 65k colori, TFT). In particolare il pannello operatore, per-mette grazie alla porte ethernet e Usb già a bordo, la massima condivisione dei dati. (supervisione, tele-assistenza, down-load dati tramite USB). Il cambio formato inoltre può avvenire in maniera completamente automatica, oppure manualmente tramite un sempli-ce volantino, e richiede pochi istanti per essere eseguito.Vista le tendenza del mercato a produrre formati sempre più grandi, TILE CONTROL-P posizionato all’uscita forno fornisce tut-te le informazioni in tempo reale, e non a campione, necessarie per effettuare tempestivamente le dovute correzioni dei parametri di lavoro. Attraverso il TILE CONTROL-P è possibile rilevare anche la misura dello spessore delle mattonelle, con un accuratezza del decimo di millimetro.

Questa possibilità semplifica nettamente le operazioni per il collegamento in rete dell’ap-parecchiatura, non è infatti necessario alcun cablaggio di rete in prossimità dello strumento.

Tile Control-P: is an extremely simple me-asuring instrument in terms of its com-position and use. It consists of 5 optical sensors (AP061), produced entirely by Appel s.r.l., or alter-natively of Laser sensors that are perfect for reading in awkward conditions (dark and structured tiles), a small electrical control panel that can be installed away from the equipment and a han-dy and straightforward TOUCH-SCREEN display with large and bright display (7”, 65k colours, TFT). The special operator panel, thanks to its Ethernet and USB ports, enables ma-ximised data sharing. (supervision, tele-assistance, data downloading via USB). Size change-over is also entirely auto-matic, or it can be done manually using a simple handwheel, and takes just a few seconds to perform.Seeing that the market tends to produce increasingly larger sizes, TILE CONTROL-P positioned on the outlet of the kiln provi-des all the information in real time, and not sampled, required to promptly cor-rect the working parameters. Using Tile-Control-P you can even detect the me-asurement of the thickness of the tiles with a precision to the tenth of a millime-ter. Tile-Control-P is a precision Tool that guarantees a measuring precision of 0.05mm and repeatability of ±0.1 mm.

This feature greatly simplifies the operations for the networking of the equipment, there is no need of network cabling in the proximity of the instrument.

Es un instrumento de medición muy simple según sus componentes y utilización. Está constituido por 5 sensores ópticos (AP061) totalmente realizados por Appel s.r.l. o, como alternativa, sensores Láser ideales para la lectura en condiciones difíciles (materiales oscuros, estructurados); un pequeño tablero eléctrico que incluso puede instalarse lejos del equipo y una ancha pantalla sensible al tacto, cómoda, luminosa y fácil de utilizar (7”, 65k colores, TFT). En particular el panel del operador permite, mediante los puertos Ethernet y USB ya instala-dos, la máxima utilización de los datos (super-visión, tele-asistencia, descarga de los datos mediante USB). Además, el cambio de formato puede ejecutarse totalmente en automático, o bien manualmente mediante una simple manivela, y requiere poco tiempo para su rea-lización. Considerada la tendencia del merca-do que se enfoca en producir formatos cada vex más grandes, TILE CONTROL-P, ubicado en la salifa fel horno, proporciona todas las infor-maciones en tiempo real y no por muestra, ne-cesarias para efectuar inmediatamente todas las correcciones oportunas de los parámetros de traabajo. Evita la manipulación del produc-to a alta temperatura y suministra mediciones reales y no subjetivas. Por medio del TILE CON-TROL-P se puede también tomar la medición del espesor de los azulejos, con una precisión de decima de milímetro. El Tile-control-P es un instrumento de precisión que garantiza una precisión de la medición de 0.05 mm y una repetibilidad de ±0.1 mm.

Esta característrica simplifica enormemente las operaciones de la red de los equipos, no hay necesidad de cableado de la red en la proximidad del instrumento.

LASER

Alimentazione - Power supply 85 ÷ 264 VAC 110 W

Cpu PLC standard

Velocità max. lineaSpeed production

60 m/min120 pz./min

Temperatura di esercizioWorking temperature

-10 ÷ +60 °C

HMI pannello operatoreHMI interface

TFT 7” 65 K colours

Formati - Sizes 10 x 10 ÷ 120 x 120 cm

PLANAR

N. di sensori ottici - N. optical sensors Da 3 a 5, 7 su richiesta

Tipo di sensori - Sensors type

Risoluzione - Resolution 0.05 mm

Ripetibilità - Repeatability ± 0.1 mm

Campo di misura - Measurement fieldAP061 Standard = 12 mm

LASER = 40 mm

Tile control - P

LASER AP061 - STANDARD

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controllo del difetto comunemente detto “trapezio” o “lunetta” (è un valore

sempre positivo).controllo del

difetto comunemente detto “cuscino” (è un valore sempre positivo).

controllo del difetto co-munemente detto “fuori quadro” (è un valore sempre positivo).

controllo della differenza della misura delle due diagonali (è un valore sempre positivo).

El parale-lismo en los bordes, diferenciado por el eje X y por el eje Y, representa el aleja-

miento entre las medidas exteriores del azu-lejo.

El paralelismo en el centro, diferenciado por el eje X y por el eje Y, representa el máximo defecto entre las me-didas exteriores y las del centro.

La cuadratura, representa la diferencia máxima entre las seis medidas de-tectadas.

La diagonal, representa la diferen-cia entre la medida de las dos diagonales del azulejo, indicada en décimos de milímetro.

the paralle-lism at the edges, different for the X axis and the Y axis, is the difference betwe-

en the outside measurements of the tile.the parallelism at

the centre, different for the X axis and the Y axis, is the maximum defect between the out-side measurements and those at the centre.

quadrature is the maximum difference between the six measurements detected.

the diagonal represents the difference between the measure of the two diagonals of the tile expressed in tenths of millimeter.

Difetti rilevati dal Planar

Defects detected by the Planar

Descripción defectos detectados por el Planarla torción representa el aleja-

miento del cuarto ángulo respecto al plano en el que están colocados los

otros tres lados del azulejo. la barrera, más conocido como

defecto local, representa el máximo defecto encontrado en todo el azulejo entre dos pun-tos adyacentes, se excluyen los ángulos.

el defecto en el ángulo, más co-nocido como oreja, representa el máximo defecto encontrado en los cuatro ángulos del azulejo. Siendo diferentes en términos de importancia, los defectos negativos (hacia abajo) están separados por los positivos.

el defecto en el centro identifica la concavidad y la convexidad del centro mi-smo. Siendo diferente en términos de impor-tancia, los defectos negtivos (concavidad) están separados de los positivos.

el defecto en los lados identifica la concavidad y la convexidad de los cuatro lados del azulejo. Siendo diferentes en térmi-nos de importancia, los defectos negativos (concavidad) están separados por los posi-tivos. Para poder dar un peso diferente en los lados de los azulejos rectangulares, los lados X están separados por los lados Y.

detecta la diferencia de espesor del último azulejo circulado con respecto a un azulejo de referencia con espesor cono-cido.

warpage is the difference of the fourth corner compared to the surface on which the other three cor-

ners of the tile rest.barrier, more commonly known as

the local defect is the maximum defect en-countered over the whole tile, corners inclu-ded, between two adjacent points.

the defect over the corner, more commonly known as the ear defect is the ma-ximum defect encountered in the four corners of the tile. As they are of different importance, the negative defects (towards the bottom) are separate from the positive ones.

the defect on the centre identifies the concavity and the convexity of the actual centre. As the importance is different, the ne-gative defects (concavity) are separate from the positive ones.

the defects on the sides identifies the concavity and convexity of the four sides of the tiles. As they are of different importance, the negative defects (concavity) are separate from the positive ones. To give a different im-portance to the sides in rectangular tiles, sides X are separate from sides Y.

this detects the thickness differen-ce of the last tile passed compared to a refe-rence tile with known thickness.

la svergolatura rappresenta lo scostamento del quarto angolo rispetto al piano

sul quale giacciono gli altri tre angoli della piastrella.

la barriera, più comune-mente detta difetto locale, rappresenta il massimo difetto riscontrato sull’intera piastrella, angoli esclusi, tra due punti adiacenti.

il difetto sull’angolo, più co-munemente detto orecchia, rappre-senta il massimo difetto riscontrato nei quattro angoli della piastrella.

controllo del difetto comune-mente detto “concavo/convesso” del centro. Con valore positivo (convesso) il difetto si presenta verso l’alto.

il difetto sui lati identifica la con-cavità e la convessità dei quattro lati della piastrella. Per poter dare un peso diverso ai lati nelle piastrelle rettango-lari, i lati X sono separati dai lati Y.

rileva la differenza di spes-sore dell’ultima mattonella transitata ri-spetto ad una mattonella di riferimento dallo spessore noto.

SvergolaturaWarpageTorsión

BarrieraBarrierBarrera

AngoloCornerÁngulo

CentroCentreCentro

LatiSidesLados

SpessoreThicknessEspesor

Difetti rilevati dal Calibro

Defects detected by the Calibre

Descripción defectos detectados por el Calibre

Difetto trapezioTrapeze defect

Defecto de trapecio

Difetto saponettaSoap-bar defect

Defecto “pastilla de jabón”

Difetto di diagonaliDiagonals defect

Defecto de diagonales

Difetto lunettaLunette defect

Defecto de luneta

Difetto clessidraSand-glass defectDefecto clepsidra

Difetto di fuori quadroOut-of-square defect

Defecto de fuera de escuadra

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