lezione16 09 struttu - brera.unimi.it · 1 ANALISI STRUTTURALI • XRD (diffrazione di raggi X) •...
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1
ANALISI STRUTTURALI
• XRD (diffrazione di raggi X)
• MICROSCOPIA OTTICA
• SEM e TEM (microscopio a scansione
elettronica)
Il campionamentoIl campionamento� il più rispettoso possibile rispetto ai
contenuti estetici, storici ed alla integrità
fisica del manufatto;
� contenuto nel numero e limitato nelle
dimensioni dei prelievi pur garantendo le
finalità analitiche;
� rappresentativo della tipologia e
fenomenologia da studiare;
� selettivo al fine di ottimizzare le operazioni
analitiche e l’interpretazione dei risultati.
NorMaLNorMaL 3/803/80
Materiali lapidei:
Campionamento
NorMaLNorMaL 2/802/80
Archiviazione di materiali
lapidei: schema di scheda
DOCUMENTAZIONE: schede di campionamento
rappresentazione grafica e fotografica
2
CAMPIONE
Tal quale SezionePolverizzato
1. Morfologia
2. Analisi elementare di superficie
3. Analisi fisiche
1. Stratigrafia
2. Composizione elementare
della sezione
1. Composizione chimica
(organica e inorganica)
2. Composizione Mineralogica
Analisi chimiche e morfologicheAnalisi chimiche e morfologiche
CAMPIONE
Tal quale
StereomicroscopiaMicroscopia elettronica
a scansioneSpettrometria X
Spettroscopia FTIR
Diffrattometria a raggi X
Studi di morfologiasuperficiale a bassi
ingrandimenti
Studi morfologiciComposizione elementale
dei livelli stratigrafici
ComposizioneChimica
Composizione mineralogica
Analisi chimiche e morfologicheAnalisi chimiche e morfologiche
3
Composizione chimica
Composizione mineralogica
XRD, XRF, FTIR
Composizione chimica della
frazione idrosolubile
IC, AAS, ICP
Estrazione acquosa
Composizione chimica della
frazione organica
(additivi, leganti, trattamenti)
FTIR, GC-MS
Estrazione insolventi organici
Analisi chimiche e morfologicheAnalisi chimiche e morfologiche
Campione
polverizzato
Analisi chimiche e morfologicheAnalisi chimiche e morfologiche
CAMPIONE
sezione trasversale
Microscopia ottica
in luce riflessa
Micr. mineralogica
in luce polarizzata
Micr. elettronica a scansione SEMSpettrometria X
Spettroscopia
micro-FTIR
Studi stratigraficiComp. mineralogica, tessitura e struttura,analisi dell'immagine.
rapporti L/A, granulometria, addensamento
Studi morfologiciComp elementale
dei livelli stratigrafici
Composizione chimica
puntuale
4
La cristallografia a raggi-X
La diffrattometria a raggi-X (XRD) viene usata per determinare le fasi cristalline contenute nei minerali.
Oltre a indagini di caratterizzazione e provenienza può servire per identificare cambiamenti dei materiali dovuti al degrado.
Arrivo di due onde e.m. sfasate di 2π su un reticolo cristallino: le onde riemesse dagli atomi interferiscono costruttivamente
Raggi X
RETICOLO CRISTALLINO
5
Una misura XRD si basa sulla misura delle distanze tra piani reticolari utilizzando una sorgente di radiazione con lunghezza d'onda di poche decine di nanometri (nm).
condizione di Bragg
condizione di Bragg:
è soddisfatta e il rivelatore raccoglierà, in direzione dell' angolo , un picco di intensità della radiazione riflessa dal campione.
n λ λ λ λ = 2d sin(θθθθ)
6
Diffrazione di raggi X su campione in polvere su terra verde, identificazione dei minerali costituenti A Celadonite (con cristalli di quarzo)B Terra verde di Cipro (Windsor e Newton) C ChloriteD Glauconite
DIFFRATTOGRAMMI
Esempio fasi cristalline del Nitruro di Titanio(NB la composizione elementare è la stessa ma cambia il reticolo cristallino)
Fonte: INFN Aquila
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un esempio di XRD su pigmenti bianchi
Bianco di Titanio TiO2
Anatase
Rutilo
Bianco di piombo
Cerussite
Idrocerussite
Distanze interatomiche nel reticolo cristallino
8
portatili
9
● Studio della craquelure
La microscopia in laboratorioLa microscopia in laboratorio
CAMPIONECAMPIONE
TAL QUALETAL QUALE SEZIONESEZIONE
stereomicroscopiastereomicroscopia SEM SEM -- EDSEDS
Composizione
elementale
dei livelli
stratigrafici
rapporti L/A,
granulometria,
addensamento
Composizione
mineralogica,
tessitura e struttura,
analisi dell'immagine
Studi
stratigrafici
Studi morfologici
ed analisi
composizionale
di superficie
Studi di morfologia
superficiale
a bassi
ingrandimenti
luce polarizzataluce polarizzataluce riflessaluce riflessa SEM SEM -- EDSEDS
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La microscopia in laboratorio
o Definizione del piano analitico
o Caratterizzazione dei materiali
o Studi stratigrafici
o Studi morfologici ad elevati ingrandimenti
o Definizione composizionale dei materiali
(componenti inorganiche)
polarizzatore
Cammino ottico della luce
con sorgente a monte
CAMPIONE
��stereomicroscopiostereomicroscopio
� microscopio in luce
polarizzata
� microscopio in luce
riflessa
La microscopia otticaLa microscopia ottica
11
� Per poter vedere gli oggetti in rilievo, occorre che ciascun occhio
li osservi da una direzione leggermente diversa rispetto all'altro.
In questo modo, all'osservatore giungono due immagini
leggermente diverse che il cervello fonde in un'unica immagine
che risulta tridimensionale.
� Dotati di una illuminazione incidente, è possibile osservare
un campione utilizzando ingrandimenti da 2,5x fino 225x circa.
� Il frammento viene osservato tal quale
Stereomicroscopio
�Finalità
� Osservare il frammento ottenuto dal campionamento a maggior ingrandimenti
� Effettuare studi di superficie di maggior dettaglio, evidenziando caratteristiche
morfologiche
� Documentare il campione e ogni sua parte mediante acquisizione di immagini
in formato digitale
� Definire e validare la sequenza analitica prevista per la caratterizzazione
materica e la definizione dello stato di conservazione
� Campionare selettivamente le porzioni più idonee per ogni singola analisi
Stereomicroscopio
12
Stereomicroscopio di laboratorio
[Barre = 1 mm]
STUCCO
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
Stereomicroscopio di laboratorio
PIETRA
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
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polarizzatore
Cammino ottico della luce
con sorgente a monte
CAMPIONE
� stereomicroscopio
��microscopio in microscopio in
luce polarizzataluce polarizzata
�microscopio in luce
riflessa
La microscopia otticaLa microscopia ottica
Microscopio ottico in luce
polarizzata
� Viene usata luce polarizzata; essa è composta da onde luminose, i cui piani di vibrazione sono tutti orientati in un’unica direzione – polarizzati linearmente.
La luce viene resa polarizzata da filtri detti polarizzatori, che privilegiano un solo piano di oscillazione nella confusione statistica propria della luce naturale.
� Esistono due tipi di questi filtri: quello posto dietro all’obbiettivo si chiama analizzatore. Se i due filtri sono disposti a 90° l’uno rispetto all’altro non lasciano passare la luce (Nicol incrociati).
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Fascio di luce
Le vibrazioni avvengono in tutte
le direzioni possibili
La luce vibra in un solo piano che contiene la
direzione di propagazione (ABCD)
Convenzionalmente la luce è polarizzata nel
piano normale (EFGH) a quello di vibrazione
Fascio di luce naturale Fascio di luce polarizzato
Composizione mineralogico-petrografica dei materiali:
� identificazione dei minerali costituenti il litotipo, legante ed aggregato, scheletro e pasta di fondo;
�definizione della struttura (insieme delle proprietà scalari: forma, dimensioni, aggregazioni e reciproche relazioni dei singoli cristalli)
�definizione della tessitura (insieme delle proprietà vettoriali: disposizione spaziale della compagine cristallina ed orientazione dei cristalli).
�definizione delle componenti minerali pigmentanti
Nei materiali lapidei artificiali: individuazione dei materiali addizionati volontariamente (frammenti di marmo, cocciopesto, segatura);
Studio dello stato di conservazione del materiale (minerali di neoformazione);
Caratterizzazione del profilo superficiale
Scopo delle osservazioni
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Le studio di sezioni sottili
Osservazione con il
solo polarizzatore (Nicol //)
Forma, dimensioni, sfaldature, rilievo,
indici di rifrazione, colore, pleocroismo
Osservazione con
polarizzatori incrociati (Nicol X)
Birifrangenza, estinzione, allungamento,
angolo degli assi ottici, segno ottico
40x Sezione di una scaglia di bronzo
luce polarizzata
Verso l’esterno si
osservano strati
contenenti diversi
prodotti di degrado
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Sezioni sottili: caratterizzazione del litotipo
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
polarizzatore
Cammino ottico della luce
con sorgente a monte
CAMPIONE
� stereomicroscopio
� microscopio in luce
polarizzata
��microscopio in luce microscopio in luce
riflessariflessa
La microscopia otticaLa microscopia ottica
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Microscopio ottico in luce riflessa
� Tecnica qualitativa e distruttiva che consente di individuare la
sequenza stratigrafica.
� Permette studi morfologico - strutturali delle stratificazioni
(adesione tra gli strati, caratteristiche proprie dello strato)
� Analisi di superficie (degrado,
applicazione di prodotti, tecniche
pittoriche, riconoscimento di eventuali
ridipinture)
� Studi morfologico-strutturali sulle stratificazioni definiscono:
� colori degli strati,
� gli spessori,
� il grado di adesione tra gli stessi e con il substrato
� indagine condotta sulla seconda metà del calco da cui è
stato ottenuta la sezione sottile precedentemente descritta
Microscopio ottico in luce riflessa
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Sezioni lucide trasversali
Finitura su pietra
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
Finiture su superfici ceramiche
Sezioni lucide trasversali
19
a
d
c
b
e
f
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Ingrandimento 80xLamina di argento in luce normale
Ingrandimento 80xLamina di argento fuso in laboratorio
in luce normale
Immagini microscopiche in luce ultravioletta
50x Scaglia di marmo da una statua
luce normale
Stessa immagine in fluorescenza ultravioletta
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Microscopio di cantiere
Stereomicroscopio portatile dotato di
zoom in continuo da 25x a 200x
ingrandimenti, sistema di
digitalizzazione dell’immagine e
successiva acquisizione delle immagini
con risoluzione di 1792x1184 pixel.
�Individuazione delle caratteristiche
morfologiche superficiali
�Individuazione delle aree di
campionamento rappresentative del bene
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
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� Il potere risolutivo di un microscopio è inversamente proporzionalmente alla
lunghezza d’onda della radiazione impiegata, qualunque sia il tipo di sorgente.
Nella microscopia elettronica si sfrutta il fatto che gli elettroni, impiegati come
sorgente “luminosa”, hanno una radiazione di bassissima lunghezza d’onda e
pertanto il loro impiego permette di ottenere poteri risolutivi assai più elevati
rispetto a quelli ottenuti con la microscopia ottica.
� Viene eseguita in alto vuoto e basso vuoto
� Vengono condotte su sezioni lucide e su campioni tal quale
Microscopia elettronica a scansione
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Interazione fra il fascio di elettroni e la
superficie del campione
e- che facevano parte delle nubi elettroniche degli atomi contenuti nel campione,
ma che hanno ricevuto dal fascio incidente una quantità d’energia sufficientemente
alta per sfuggire.
Sono emessi dagli strati più superficiali del campione permettono di studiare la
morfologia ed i fenomeni di superficie
Elettroni secondari
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
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• Elettroni secondari (interazione superficiale=> morfologia della superficie)
• Elettroni retrodiffusi (interazione con i nuclei=> mappatura degli elementi superficiali)
• Raggi X caratteristici (interazione più profonda=> composizione elementare)
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fenom
eni di degra
do b
iolo
gic
o prodotti applicati sulle superfici
Studi morfologici: fenomeni di degrado
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
Confronto
M.O. - SEM
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
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Si ottengono spettri di emissione o mappe di distribuzione di elementi
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Analisi al SEM su un campione di marmo con fenomeni di croste nere evidenziate dalla
presenza di zolfo (dall’inquinamento atmosferico) e di calcio (dal carbonato di calcio del marmo)
Analisi SEM + EDS
Immagini per gentile concessione CNR ICVBC – sez. Milano
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[Barra = 100 µm]
Immagine in BSE relativa agli strati di finitura e spettro
EDS registrato a carico di uno strato di doratura
realizzato mediante l’impiego di una foglia composita
Applicazione degli studi di microscopia ad
un frammento di stucco con doraturaEsempio:
Pigmenti neri carboniosi:
Carbone di legna (a) Nerofumo (b) Nocciolo di pesco (c) Sughero (d)
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Lamina di bronzo dorato
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