Laurea Magistrale in Fisica Corso di Laboratorio di Fisica - a.a. 2009/10 Proposta di esperienza di...
-
Upload
amedeo-vitali -
Category
Documents
-
view
215 -
download
1
Transcript of Laurea Magistrale in Fisica Corso di Laboratorio di Fisica - a.a. 2009/10 Proposta di esperienza di...
Laurea Magistrale in FisicaLaurea Magistrale in FisicaCorso di Laboratorio di Fisica - a.a. 2009/10Corso di Laboratorio di Fisica - a.a. 2009/10
Proposta di esperienza di laboratorioProposta di esperienza di laboratorio
Tecniche ottiche risolte in tempo Tecniche ottiche risolte in tempo perper
l’analisi non distruttiva dei l’analisi non distruttiva dei materialimateriali
Proponenti: Proponenti: Prof. Corrado de LisioProf. Corrado de LisioProf. Giampiero PepeProf. Giampiero PepeDr. Loredana ParlatoDr. Loredana Parlato
SommarioSommario
• Spettroscopia Ottica Ultraveloce Spettroscopia Ottica Ultraveloce (UOS)(UOS)
• ApplicazioniApplicazioni•MetalliMetalli•SemiconduttoriSemiconduttori•ManganitiManganiti•SuperconduttoriSuperconduttori•Materiali innovativiMateriali innovativi
• Descrizione dell’esperimentoDescrizione dell’esperimento
• Prospettive futureProspettive future
Strumentazione e tecniche Strumentazione e tecniche impiegateimpiegate
• Laser Ti:Sa con mode-locking, durata degli Laser Ti:Sa con mode-locking, durata degli impulsi: 100 fs; potenza media: 600 mW, impulsi: 100 fs; potenza media: 600 mW, = = 800 nm; cadenza degli impulsi: 82 MHz800 nm; cadenza degli impulsi: 82 MHz
• Rivelatore: fotodiodo veloce (125 MHz)Rivelatore: fotodiodo veloce (125 MHz)
• Linea di ritardo ottica programmabileLinea di ritardo ottica programmabile
• Oscilloscopio digitaleOscilloscopio digitale
• Amplificatore lock-inAmplificatore lock-in
• Strumentazione ed acquisizione dati controllate Strumentazione ed acquisizione dati controllate da computer (LabView)da computer (LabView)
• Elaborazione dei dati (Microcal Origin)Elaborazione dei dati (Microcal Origin)
Impegno richiestoImpegno richiesto
• Circa 40 h:Circa 40 h:
• 4 h: introduzione alle problematiche4 h: introduzione alle problematiche
• 2 h: guida alle norme di sicurezza2 h: guida alle norme di sicurezza
• 4 h: familiarizzazione con la 4 h: familiarizzazione con la strumentazione e strumentazione e le tecniche di le tecniche di misuramisura
• 20 h: realizzazione delle misure20 h: realizzazione delle misure
• 10 h: analisi dei dati10 h: analisi dei dati
Spettroscopia Ottica UltraveloceSpettroscopia Ottica Ultraveloce
• Dinamiche elettroniche in semiconduttoriDinamiche elettroniche in semiconduttori• Diffusione elettrone-elettrone ed elettrone-fononeDiffusione elettrone-elettrone ed elettrone-fonone• Trasporto elettronicoTrasporto elettronico• Effetti coerenti Effetti coerenti • Confinamento quantico in semiconduttori ed Confinamento quantico in semiconduttori ed
eterostruttureeterostrutture
• Correlazioni a molti corpi nelle distribuzioni Correlazioni a molti corpi nelle distribuzioni dei portatori generati in seguito ad dei portatori generati in seguito ad assorbimento di luceassorbimento di luce
• Natura dei processi di interazione e–e ed e–p Natura dei processi di interazione e–e ed e–p in metalli convenzionali (Au, Ag)in metalli convenzionali (Au, Ag)
• Dinamiche dei portatori e delle quasi-Dinamiche dei portatori e delle quasi-particelle nei semiconduttoriparticelle nei semiconduttori
DinamicheDinamiche ultraveloci nei metalli ultraveloci nei metalli
Unpaired Unpaired electronselectrons
Cooper pairs (T<Tc)Cooper pairs (T<Tc)
energy gap ()energy gap ()
Photon absorptionPhoton absorption(h )(h )
Unpaired Unpaired ElectronsElectrons
(quasi-particles)(quasi-particles)
Cooper pairsCooper pairs
Pair breakingPair breaking
e-e and e-pe-e and e-pscattering produces scattering produces
many quasi-many quasi-particles with particles with energy > 2 energy > 2
Relaxation Relaxation
Dinamiche ultraveloci nei superconduttoriDinamiche ultraveloci nei superconduttori
• L’assorbimento di fotoni modifica la funzione di L’assorbimento di fotoni modifica la funzione di distribuzione elettronicadistribuzione elettronica
• Alterazione della funzione dielettrica: Alterazione della funzione dielettrica: (t) = (t) = 11(t)(t)+ i+ i22(t)(t)
• Si modificano le proprietà ottiche del materiale:Si modificano le proprietà ottiche del materiale:
Dove Dove RR , ,TT
Transient thermo-reflectance (TTR)Transient thermo-reflectance (TTR)or thermo-transmittance (TTT) or thermo-transmittance (TTT)
The experimental The experimental setupsetup
Lock-in amplifieramplifier
MillenniaMillennia TsunamiTsunami
Modulation monitor
Wavelength = 750 820 nmWavelength = 750 820 nmPulse duration = 90 fsPulse duration = 90 fsPulse energy = 9 nJPulse energy = 9 nJRep. Rate = 82 MHzRep. Rate = 82 MHzAvg. Power = 700 mWAvg. Power = 700 mW
PolarizingPolarizingbeamsplitterbeamsplitter
Acousto-opticAcousto-opticmodulatormodulator
PBSPBS
AOMAOM
PBSPBSSampleSample
Prospettive future Prospettive future
• Misure su manganiti e materiali innovativi Misure su manganiti e materiali innovativi (nanoparticelle metalliche in matrici (nanoparticelle metalliche in matrici polimeriche, nanotubi di carbonio, etc. etc.)polimeriche, nanotubi di carbonio, etc. etc.)
• Caratterizzazione ultraveloce delle dinamiche Caratterizzazione ultraveloce delle dinamiche di spin (TR-MOKE)di spin (TR-MOKE)
• Misure con risoluzione spettrale (generazione Misure con risoluzione spettrale (generazione di luce bianca per il probe e uso di un di luce bianca per il probe e uso di un amplificatore parametrico)amplificatore parametrico)