Fondazione Bruno Kessler

Centro materiali e microsistemi

dott. Massimo Bersani Micro and Nano Analytical

Laboratory (MiNALab)Michele Moltrer Daniela Michelatti

Il Laboratorio MiNaLab si dedica principalmente

all’analisi delle superfici organiche ed inorganiche

nell’ambito della microelettronica e della

nanotecnologia, al fine di dare supporto sia alle industrie ed

ai laboratori di ricerca di tutto il mondo, sia alle attività di

ricerca proprie del gruppo.

• Osservare il tipico procedimento di ricerca scientifica eseguito in un laboratorio;

• Capire il percorso di collaborazione lavorativa nell’ambito della ricerca;

• Approfondire le nostre conoscenze in chimica, fisica e biologia.

OBIETTIVI:

SEMMicroscopio Elettronico a Scansione: Informazioni morfologiche

Gennaro Salvatore

PROFILOMETRO

Profilometro: grazie ad una punta che segue il profilo del campione, si possono ottenere informazioni morfologiche

Barozzi Mario

XPSSpettroscopio fotoelettronico a raggi-X: informazioni chimiche

02 004 006 008001 00 0

B ind ing Energy [eV ]

0

50 0

1 00 0

1 50 0

2 00 0

2 50 0

3 00 0

Intensity[cps]

C o re line: su rvey

Vanzetti Lia Emanuela

O 1s

C 1s

O-Auger

Zn 2p

O-Auger

Ca 2p N 1s

SS, Si, Zn

Si, Zn

XRDDiffrattrometro a Raggi X: sfruttando il fenomeno della diffrazione, si riescono ad ottenere informazioni riguardo al reticolo cristallino del campione.

Bortolotti Mauro

• L'esame della superficie mediante SEM con un basso ingrandimento

rivela che la matrice sembra sia costituita da 3 fasi principali:a) La matrice vera e propria, di natura amorfab) Fibre flessibili presumibilmente in cellulosac) Fibre a maggior rigidità

Lo spettro eseguito mediando su un’area contenente tutte e tre le fasi ha mostrato la presenza di, principalmente: C, N, O, S, Na, Ca, Cr, Zn, Si, Al e (in alcuni casi) Fe.

• Grazie all’utilizzo del Profilometro infine, abbiamo potuto constatare che il campione è di uno spessore di circa 373 µm, nonostante i problemi derivati dalla grande rugosità dello stesso.

• Con l’analisi XRD invece, anche se i dati sperimentali sono abbastanza problematici, abbiamo attribuito alle fibre di maggior rigidità una composizione in kevlar, ed alla matrice ed alle fibre più flessibili una natura amorfa di cellulosa.

SIMS (Damiano Giubertoni) Spettrometro di massa dinamico: informazioni di composizioni chimiche di superficie e in profondità (few nm – 10 μm)

TOF (Salvatore Gennaro) Spettrometro di massa a tempo di volo: informazioni chimiche di superficie

COMPUTAZIONE (Rossana Dell’Anna): riunire informazioni ricavate con gli strumenti per ottenere nuove conoscenze sul materiale analizzato