Progetto e realizzazione di un capacimetro con microcontrollore per fotodiodi SPAD Davide Tamborini...

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Progetto e realizzazione di un capacimetro con microcontrollore per fotodiodi SPAD Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Relatore: Correlatore: Prof. Alberto Tosi Ing. Alberto Dalla Mora

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Progetto e realizzazione

di un capacimetro con microcontrollore

per fotodiodi SPADDavide Tamborini e Alessandro Ruggeri

Relatore:

Correlatore:

Prof. Alberto Tosi

Ing. Alberto Dalla Mora

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Davide Tamborini e Alessandro RuggeriMilano, 22 Luglio 2009

2Sommario

La capacità dello SPAD

Funzionamento del capacimetro

Taratura e misure sperimentali

Conclusioni e prospettive

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3Il fotorivelatore SPAD

Rivelazione del fotone:

Confronto APD – SPAD :

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4Circuiti di spegnimento passivi

Free RunningGated – Mode

Errori di rivelazione

Alzare Soglia

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5“Capacimetro per diodi polarizzati” I

REQUISITI:

Tensione linearmente dipendente dal valore della capacità

Range: da 0.1pF a 20pF Risoluzione: 5fF Bassi parassitismi Polarizzazione dello SPAD

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6“Capacimetro per diodi polarizzati” II

Analisi circuitale

Guadagno ideale

Due zeri nell’origine

Ad alte frequenze:

Guadagno reale con banda limitata da CAK

Caratteristiche:

Frequenza di 50kHz

Ingresso di ampiezza 0.1V con conseguente uscita da 15mV a 3V

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7Presentazione dello SPADCapMeter

Svantaggi :

• Generatore di funzioni;

• Oscilloscopio;

• Nessun interfacciamento;

• Necessità programma di calcolo.

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8SPADCapMeter

AlimentazioneFront-end

AnalogicoConvertitore A/D

MicrocontrolloreGeneratore di

sinusoideCapacimetro

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9Generazione Sinusoide

Filtro a reazione multipla

MicrocontrolloreFiltro

Passa Banda

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10Front-end analogico

InputComparatore Ritardatore

SOC

5µs

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11Scelta Convertitore A/D

Requisiti

• ∆V =0.1V

700fFx 5fF = 0.7mV

• fSAMPLE > 50ksps

• SOC attivo basso

LTC1417A

• r∆V =4.096V

214= 250μV

• fSAMPLE = 400ksps max

• Comunicazione SPI

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12Microcontrollore – Hardware

Gestione SPADCapMeter

SPI

USB PWM

CORE

PIC18F4550

Vantaggi USB:Protocollo largamente diffuso; Plug and Play;Alta velocità di trasferimento;Autoalimentazione.

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13Firmware

Blocchi principali:– Inizializzazione hardware:

• SPI• Timer• USB

– Gestione USB– Acquisizione ed elaborazione:

• Filtro mediano + media

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USB: fornisce 5V @ 500mA MAX;

SPADCapMeter:– Assorbe 75mA;– Necessita di ±5V

Circuito a pompa di carica:

Alimentazione

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15Realizzazione pratica

Alimentazione

Front-end

Analogico

Con

vert

itore

A/D

Mic

roco

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Gen

erat

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di

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16Interfaccia Labview

Due tipi di misure:– Misura singola– Misura caratteristica

Due pannelli ausiliari– Taratura– Cparassita

Pannello delle Opzioni

• Abilitazione correzione

• Caricamento file di taratura di default

• Impostazioni di esportazione dei files

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17Misure

Taratura:

Verifica caratteristica

Misura CparassiteCaratteristica

Vp - Cak2.214pF ± 0.5fF

Ccorrezione data da Cbk serie Cba ~ Cbk

Obiettivo: Caratterizzazione di uno

SPAD in silicio con VB=17V

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18Conclusioni

Sviluppato sistema per misura di capacità rivelatori SPAD;

Range di Misura tra 0.1pF – 20pF;

Misura automatizzata mediante microcontrollore;

Interfaccia USB e gestione via Labview.

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19Prospettive

Alimentatore ±15V per operazionali scheda capacimetro

Generatore tensione di bias per SPAD

Aggiunta funzionalità al software

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Progetto e realizzazione

di un capacimetro con microcontrollore

per fotodiodi SPAD

Tamborini Davide e Ruggeri Alessandro

Relatore:

Correlatore:

Prof. Alberto Tosi

Ing. Alberto Dalla Mora

Grazie per l’attenzioneGrazie per l’attenzione

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21 Gated – Mode a prelievo differenziale

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22Studio Capacimetro

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23Filtro Passa Banda

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24Front-end analogico II

In corrispondenza del massimo valore dell’ingresso si ha lo Start Of Conversion

Scelta soglie:Durata impulso monostabile :

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25Filtraggio

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26Codice C

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27Funzionamento interfaccia

Blocco fondamentale: getM.vi

Esempio di acquisizione: misura caratteristica

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28Misure

1. Taratura dello strumento con tre condensatori di precisione da 0.7pF, 1.1pF e 4.3pF;

2. Controllo della taratura con un quarto condensatore da 2.2pF tramite misura singola;

3. Rilevazione delle capacità parassite dello SPAD, misurando CAK, CBK e CBA con Vp=0;

4. Caratterizzazione dello SPAD usando una Vp

da 0V a 15V con passi di 1V

Caratterizzazione di uno SPAD al silicio

con VB=17V