Patternator project
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mauriziomalaspina -
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Automotive
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Ruolo chiave dell’iniettorenella formazione dello spray
Funzionamento in regimedi carica stratificata
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Ruolo chiave dell’iniettorenella formazione dello spray
Funzionamento in regimedi carica stratificata
Minore consumo di benzina
Riduzione dell’emissionedi inquinanti
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Iniettore sotto test
Modello CFD
Metodi di misura ottici
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C0 = 8pF
CDC AD7746
n-Eptano:
l = 1,997pF/m
Sensibilità 10lMetodo di conversione:
- Modulatore , uscita 24bit
- Range di misura ±4pF
- Accuratezza ±4fF
- Alimentazione DC VDD=3,3V
- EXC: ±VDD/2, f=32KHz
Funzione di conversione inversa sperimentale
y = 10x + 10R2 = 1
0
200
400
600
800
10000,
090
0,64
0
1,02
0
1,23
0
1,67
0
2,25
0
2,86
0
3,56
0
4,16
0
4,64
0
5,17
0
5,65
0
6,09
0
6,54
0
7,04
0
7,46
0
7,91
0
C misurata (pF)
Volu
me
inie
ttato
di
n-Ep
tano
(
l)
![Page 7: Patternator project](https://reader036.fdocumenti.com/reader036/viewer/2022070522/58eec9751a28ab267c8b45e1/html5/thumbnails/7.jpg)
Connessione matriciale:riduzione numero connessioniMappatura logica
Misura cella (3,3) single ended
Capacità parassite
Linearità della f.d.c.Ripetibilità (con scarica armature)Limitato crosstalkSensibilità fino al l
Necessità di schermatura a GNDProblemi di tenuta stagnaProblema della coassialitàDifficoltà di isolamento dellearmature esterne
CAPACITA’ BIFILARE
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Linearità della f.d.c.Ripetibilità (con scarica armature)Limitato crosstalkSensibilità fino al l
Aumentato rapporto S/N tramite schermaturaRisolti i problemi di tenuta stagna
Problemi meccanici di:- Foratura alloggiamento sensori- Parallelismo armature
REALIZZAZIONE SENSORE 25x25CON TECNICA STEREOLITOGRAFICA
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Aumentato S/N medianteutilizzo batteria conunione delle masse
Ampia variabilità offsets
Problema di ripetibilitàdella misura
PROGETTAZIONEOCULATA PCB
SCARICA LINEEDI CONVERSIONE
CDC
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TOP VIEWLATERAL VIEW
DETTAGLIO
ARMATURA
Problema del parallelismo delle armaturerisolto tramite l’impiego di occhielli Linearità della f.d.c.
Armature inserite inun pattern 5x5
realizzato per eseguiretests
Totale sensori: 625 su area di 10x10cm2
Lunghezza lato base quadrata: 3,2mmVolume disponibile per n-Eptano:625 x 1176,59 lC01,83pF, C 1,5pF
Armature in tungstenocon base nichelata per brasatura,diametro 0,6mm, lunghezza 139,7mm,separazione dei centri 2h3,394mm
Necessità di siliconare la base perassicurare la tenuta stagna
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C misurataLEGENDA
C parassita eliminata
Connessione alternata dei sensori
riduzione Cparassite
Utilizzo di4 livelli di
metallizzazione
Schema elettrico circuito di misuraMicrocontrollore PIC18F242 (Microchip)Sistema di commutazione a relays reed
Sistema di scarica linee del CDCtramite relay reed
Pilotaggio relays con driver 6259
(Allegro MicroSystems)
Porte seriali RS232C
optoisolate
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Firmware scritto in C e ASM:-Protocollo di comunicazione seriale con gestione timeout e rilevazione errori-Identificazioni sottomatrici-Comunicazione I2C con CDC-Gestione commutazione relays-Scarica linee CDC
Tempo di scansione dell’interopattern 1’ 30’’ con Tconv=109,6ms
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1574 1296
_ =278
Misura a vuoto: C0Misura a regime: C C = C - C0
Funzione di conversione sperimentale della cella in fase di misura
y = 0,7943x - 8,5604R2 = 0,9976
0
100
200
300
400
500
600
0 200 400 600 800
Volume di n-Eptano (l)
Unità
mis
urat
e(C
DC c
ode/
1000
)
Sperimentale
Interpolazione m.q.
Funzione di conversione inversaV [l] = 1,259C+10,77=109l
109
Stima volume di n-Eptano [l]
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Raggio d’azione limitato alle sole celle perimetrali
Test effettuati nella peggiore condizione di funzionamento
Origine: dipendenza di un sensore dallo stato di quelli perimetrali
1785 175517481785 17551748
+810
174817481643
+746+75850mm
1.6%
+797
70mm6.8%
25mm
25mm
25mm
ERRORE < 1%
Ipotesi di funzionamento con distribuzione spaziale del carburante uniformeCrosstalk trascurabile
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Incertezza del misurando: ± 0,05l(siringa micrometrica: ± 0,5l)
Valutazione dellaincertezza di tipo A (norma UNI CEI 9/97)
su un subpattern 5x5 con set di N=10 misure ognuno
M=7 step di riempimento
Valutazione incertezza di tipo A sullastima del volume
al variare del fattore di copertura k
Funzioni di conversione inverse sperimentali pattern 625x625.
1250
1450
1650
1850
2050
2250
2450
0 100 200 300 400 500 600 700 800
Volume di n-Eptano (l)
Capa
cità
(cod
e) (7,15)
(7,16)(7,17)
(7,18)(7,19)
Funzioni di conversione inverse sperimentali pattern 625x625.
1250
1450
1650
1850
2050
2250
2450
0 100 200 300 400 500 600 700 800
Volume di n-Eptano (l)
Capa
cità
(cod
e) (8,15)(8,16)
(8,17)(8,18)
(8,19)
Funzioni di conversione inverse sperimentali pattern 625x625.
1250
1450
1650
1850
2050
2250
2450
2650
0 100 200 300 400 500 600 700 800
Volume di n-Eptano (l)
Capa
cità
(cod
e) (9,15)
(9,16)
(9,17)
(9,18)
(9,19)
Funzioni di conversione inverse sperimentali pattern 625x625.
1250
1450
1650
1850
2050
2250
2450
2650
0 100 200 300 400 500 600 700 800
Volume di n-Eptano (l)
Capa
cità
(cod
e) (10,15)(10,16)
(10,17)(10,18)
(10,19)
Funzioni di conversione inverse sperimentali pattern 625x625.
1250
1450
1650
1850
2050
2250
2450
0 100 200 300 400 500 600 700 800
Volume di n-Eptano (l)
Capa
cità
(cod
e) (11,15)(11,16)
(11,17)
(11,18)(11,19)
-Sensibilità: 2,5l-Incertezza sulla stima del volume: ±7,3l-I.e. max relativa vs fondo scala: 1% (p=99% che misurando appartenga all’intervallo di confidenza)-Incertezza di tipo B: 16l, in forma relativa vs f.s. = 2,3%
Funzione di conversione inversa caso peggiore cella (9,18), (incertezza estesa=7,27l calcolata per k=2)
1855
1955
2055
2155
2255
0 100 200 300 400 500 600 700
Volume di n-Eptano (l)
Capa
cità
(cod
e)
Funzione di conversione inversa caso migliore cella (8,19), (incertezza estesa=0,68l calcolata per k=2)
1855
1955
2055
2155
2255
2355
0 100 200 300 400 500 600 700
Volume di n-Eptano (l)
Capa
cità
(cod
e)
![Page 16: Patternator project](https://reader036.fdocumenti.com/reader036/viewer/2022070522/58eec9751a28ab267c8b45e1/html5/thumbnails/16.jpg)
Aumento del rapporto S/NSchermatura metallica del sensore(collegata a GND)Alimentazione tramite batteria
Relays reed schermati
Estensione del funzionamentoStudio e modellazione del crosstalk
Filtri software
Diminuzione interferenze e.m.
Geometria sensore
STUDIO E.M.UNIVERSITA’DI CASSINO
Valutazione della prontezza del sistemaModifiche al firmware: attesa KxTconv
Modifiche al software: invio di parametri al sistema