May 18, 2001G. Chiodini - Fermilab1 R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale...
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May 18, 2001 G. Chiodini - Fermilab 1
R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
FPIX0 64x12cells
8 bit external ADCFPIX1 160x18cells
2 bit internal FADC
•ST1-CiS p-stop•ST2-CiS p-sprayBonded active area 3.2x4.4mm2
•Two ST1-Seiko p-stop•ST2-Seiko p-sprayBonded active area 8x6.8mm2
• Test con fascio di pioni a 227 GeV(m. scatteringum).
• Ricostruzione nello spazio delle tracce con un Telescopio a microstrip di Si (risoluzione2um non deconvoluta dai dati).
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Raccolta di carica
<Q>=28850e-
Qmp=23380e-
Distribuzione di Landau convoluta con una gaussiana
)'
(
2')(
0
2
2
)'(2
2
MP
g
EE EEe
dENEfg
Saturazione del FE per CS=1
400 m
50 m
Perdita di carica nel sensore p-spray con anello flottante
Raccolta di carica uniforme nel sensore p-stop
La perdita di carica non e’ intrinsica alla tecnologia p-spray
ma e’ dovuto a questo particolare design.
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Divisione di carica
Divisione di carica nel caso in cui la traccia
incidente non e ‘ perpendicolare.
Divisione di carica in presenza di un campo B
(angolo di Lorentz).
Divisione di carica dovuto alla diffusione dei
portatori.
Meccanismi responsabili della divisione di carica
Divisione di carica capacitiva:
lettura ogni NxN pixel.
backplane
pixelinter
0 C
C
V
VAC
V0 VACVAC
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
Algoritmo digitale
x
Q Fluttuazione di carica
qLqR
Algoritmo head-tail
Divisione di carica e risoluzione spaziale
2,1
,1 RL
Nj
Njj
digital
xx
j
x
x
)(_ fxx digitaltailhead LR
LR
dove
La posizione della traccia e’ correlata con la carica raccolta dai pixel agli estremi del cluster.
LRtailhead q
qp
Si riduce al baricentro di carica per N=2 e f=p/2
222scorrelata flu.ADCnoise qqqq
qqq RLLR
12
Ppdigital
p=pitch
P=frazione di sharing
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
La correzione f puo’ essere estratta dai dati studiando la correlazione tra la posizione della traccia ed il residuo digitale. digpred XXf )(
La correzione f dipende dall’angolo della traccia e dalla molteplicita’ del
cluster
Traccia a 0 gradi nominali
Traccia a 10 gradi nominali
Ni
iithbiasTot PQBV,1
22 ),,,(
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
•Traccia fittata con il filtro di Kalman •Xpred = proiezione sul piano del fit fatto utilizzando tutti i piani ad eccezione di quello in esame (pred = 1.9 m) .• Xmeas= coordinata misurata dal piano in esame utilizzando l’algoritmo head-tail.• Risoluzione = dispersione dei residui (Xpred –Xmeas)• Suddivisione di carica lungo una colonna
CS=1,…,6
x
y
400m
50m
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
xy
400+400 m
Buona risoluzione spaziale anche quando la carica e’ suddivisa tra colonne.
Sigma=4.650.10 m
Mappa 2D della divisione di carica per tracce a 0 gradi.
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
La risoluzione si degrada rapidamente al crescere della soglia
Soglia nominale
Sensore ST1 CiS equipaggiato con FPIX0
• Nessuna degradazione della risoluzione quando il rivelatore e’ sovrasvuotato.• A piccoli angoli di traccia la risoluzione migliora per bias vicino al potenziale di svuotamento.
Bias nominale Vsvuotamento
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
Sensore ST1 CiS equipaggiato con FPIX0
Confronto tra la risoluzione ottenibile con l’interpolazione di carica analogica e digitale.L’informazione di carica migliora risoluzione in modo significatico.
Con quanta precisione e’ necessario misurare la carica raccolta per avvantaggiarsi della interpolazione analogica? Quanti bits di accuratezza digitale sono necessari nel ADC di Front-End?
May 18, 2001 G. Chiodini - Fermilab 10
R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Risoluzione spaziale
FPIX0pstop(8-bit) Qth=3720e-
FPIX1pstop(2-bit) Qth=3780e-
FPIX0pstop(8bit) Qth=2500e-
FPIX0pspray(8bit)Qth=2200e-
FPIX1pstop(2bit)Qth=3780e-
La risoluzione si degrada meno di 1 um passando da 8 bit (nominali) a 2 bit.
Nel caso del sensore p-spray la perdita di carica peggiora la risoluzione spaziale in modo significativo.
8 bit (nominali)= 45 bit
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio - Funzione di risoluzione
offcutpl
offcutoffcut
pl
pl
rxx
A
rxr
A
xF
||||
||||
)(
W
xt
W
bgpW
pWbg e
AdtxF
2
2)(
2)(
La coda non-gaussiana ha le seguenti proprieta’: • Contiene il 15% degli eventi• esponente 2.3
)()()( xFxFxF plGauss
TTT
keV
dT
dNoffcut
36.52
Emissione di raggi delta
No divisione
di carica:Box-shape
Divisione di carica:coda non-gaussiana
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio – Esposizione a raggi gamma
Risposta ad un impulso di 3260e nominali prima e dopo 33 Mrad(Si) d’esposizione alla radiazione gamma
Variazione della distribuzione del soglia e del rumore prima e dopo 33 Mrad(Si) d’esposizione alla radiazione gamma.
Esposizione a Co60 ad Argonne National Laboratory di diverse strutture di test (dispositivi singoli) e preFPIX2T (array di FE 2x32).
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio – Esposizione a protoni di 200 MeV
Tensione d’uscita del DAC (14 MRad[Si]).
• IUCF (Indiana University Cyclotron Facility).• 4 preFPIX2I (matrice 18x32 completa di readout).• 1 preFPIXTb (matrice 18x32 completa di readout e DAC). • Leggero aumento della potenza dissipata dopo l’irragiamento.
Distribuzione di soglia e del rumore (26 MRad[Si]).
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R&D a FNAL: Studi condotti su fascio – Single event effect
1errorbit -kill
1errorbit -DAC
23N
8.1N
h
h
216register-shift 10)3.097.1( cm 21610)2.18.3( cmDAC
PreFPIX2I esposto per 24 ore ad un fascio di protoni a 200 MeV. Dose totale integrata pari a 26 Mrad(Si) (equivalente a circa 8 anni di BTeV):• Nessuna evidenza di Latch-up o altri eventi catastrofici.• Nessuna evidenza di gate-rapture.
PreFPIX2Tb esposto per 8 ore ad un fascio di protoni a 200 MeV. Dose totale integrata pari a 14 Mrad(Si) (equivalente a circa 5 anni di BTeV):• Evidenza di Single Event Up Set sia nei registri di mascheramente e iniezione di carica delle celle, sia nei registri dei DAC della periferia.• Misura della sezione d’urto di upset di un bit.
Predizione del rate d’errore nel rivelatore di vertice in BTeV
bit onebitserror NFN • Nerror = total bit errors• F = I*time = integrated fluence• Nbits = number of bits exposed• sbit = one bit SEU cross section
May 18, 2001 G. Chiodini - Fermilab 15
Conclusioni1. BTeV e’ un esperimento
tecnologicamente aggressivo ma fattibile con la tecnologia esistente.
2. Enormi progressi sono stati fatti a FNAL nel realizzare prototipi di piccoli rivelatori a pixel soddisfacenti le richieste di BTeV.
1. Elevata risoluzione spaziale.2. Resistenza alla radiazione.3. Elevata velocita’ di lettura.
3. Ora e’ necessario affrontare le problematiche relative alla costruzione ed integrazione di un rivelatore esteso, completo e robusto.
1. Yield delle sue varie componenti.2. Un “leggero’’ supporto meccanico e di
raffredamento.3. Installazione e cablazione all’interno del
contenitore ad alto vuoto.