Il nuovo Laboratorio di tecniche nucleari applicate ai ... · C o n t e g g i Na Al Si S K Ca...
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Lecce, 25 aprile 2003
Il nuovo Laboratorio di Il nuovo Laboratorio di tecniche nucleari applicate tecniche nucleari applicate
ai Beni Culturaliai Beni Culturali
Novella GrassiUniversità di Firenze e INFN
Lecce, 25 aprile 2003
Ruolo della Fisica per i Beni CulturaliRuolo della Fisica per i Beni Culturali
• importanza in fase di conoscenza e diagnosi
• anche in fase di intervento sull’opera
datazioni
analisi di composizione dei materiali
imaging
diagnosi dei problemi di deterioramento
quasi tutte le tecniche fisiche sono non invasive: possibilità di indagine senza effettuare prelievi o
comunque danneggiare l’opera
Lecce, 25 aprile 2003
Fisica Nucleare e Beni CulturaliFisica Nucleare e Beni Culturali
• Ion Beam Analysis (IBA)con acceleratori o sorgenti
• Fluorescenza X (XRF)
analisi di materiali
• Accelerator MassSpectrometry (AMS)
datazioni con 14C
Lecce, 25 aprile 2003
Le attività dell’INFN e delle Le attività dell’INFN e delle Università (I)Università (I)
dal KN3000 al nuovo acceleratore Tandemtecniche IBA + AMS(progetto speciale LABEC, progetto MASAI –P.A. Mandò)in collaborazione con:
- Sezione INFN di Genova (A. Zucchiatti) e LNS (G. Pappalardo)
- Istituzioni nel campo dei Beni Culturali (Lab. de Recherche des Musées de France-Louvre, Opificio delle Pietre Dure…)
• Firenze
Lecce, 25 aprile 2003
• Catania strumentazione XRF e IBA portatile (MASAI-(LNS) G. Pappalardo)
• Milano XRF (FELIX-A. Longoni, C. Fiorini)(Politecnico)
• Milano e termoluminescenza (ILDE–M. Martini, O. Troja)Catania
• Bologna radiografia digitale e tomografia computerizzata (F. Casali)
Le attività dell’INFN e delle Le attività dell’INFN e delle Università (II)Università (II)
Lecce, 25 aprile 2003
Analisi dei materiali in campo Analisi dei materiali in campo archeometricoarcheometrico: perché?: perché?
• informazioni su una singola opera, per conoscere le tecniche specifiche impiegate dall’autore
• informazioni generali di carattere storico su sviluppi tecnologici e fonti di approvvigionamento nel passato, scambi
economici e culturali fra diverse popolazioni…
• datazioni indirette, attribuzioni, autenticazioni (o scoperta di falsi)
• controllo dei processi di degrado
• scelta di appropriate condizioni di conservazione e di tecniche di restauro compatibili e reversibili
Lecce, 25 aprile 2003
Ion Beam AnalysisIon Beam Analysis (I)(I)
fascio di particelle
0
500
1000
1500
2000
2500
0 1000 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000
EX (eV)
Con
tegg
i
Mg
Al
Si
Ca
Fe
rivelatore
radiazione caratteristica
campione
segnale
spettro di energia
Lecce, 25 aprile 2003
Ion Beam Ion Beam AnalysisAnalysis (II)(II)
Y(a,a)YRBS
raggio γ
Y(a,bγ)ZPIGE
Y(a,b)ZNRA
elettrone
Y(a,aX)YPIXE
raggio X
PIXE: Particle Induced X-ray EmissionPIGE: Particle Induced Gamma-ray Emission
RBS: Rutherford Backscattering SpectrometryNRA: Nuclear Reaction Analysis
Lecce, 25 aprile 2003
Caratteristiche delle analisi IBACaratteristiche delle analisi IBA• veloce, quantitativa e multielementale• grandi sezioni d’urto
(in particolare per la PIXE: 1-1000 barn)
• analisi degli strati superficiali (decine di µm)• informazioni sulla stratigrafia (RBS e PIXE differenziale)• micro-analisi• fascio esterno (fondamentale per l’analisi di opere d’arte di
grandi dimensioni o di campioni isolanti)
- basse correnti di fascio (decine di pA)- elevata sensibilità (~ ppm)
non distruttiva
Lecce, 25 aprile 2003
Il fascio esterno al KN3000Il fascio esterno al KN3000
1 cm
Lecce, 25 aprile 2003
PIXEPIXE--Analisi di inchiostri in manoscritti Analisi di inchiostri in manoscritti di interesse storicodi interesse storico
Inchiostri metallo-gallici:le quantità relative di Fe, Ni, Cu, Zn, Pbpossono variare di molto fra inchiostro e inchiostro;possono essere utilizzate per distinguere diverse “partite” di inchiostro e quindi diversi periodi (inchiostri “fatti in casa”)
Le analisi PIXE hanno dato un contributo importante alla ricostruzione cronologica
degli appunti di Galileo sul “moto naturale”, attraverso il confronto della composizione dell’inchiostro usato per i fogli non datati
con quella di scritti datati
Progetto PIXEProgetto PIXE--GalileoGalileo
Lecce, 25 aprile 2003
Galileo: alcuni fogli Galileo: alcuni fogli manoscritti non manoscritti non datati…datati…
note di esperimenti e calcoli…
…teoremi in bell’ordine, glosse, sottolineature…
…sequenze di numeri e calcoli in
disordine…
…correzioni e cancellature
Lecce, 25 aprile 2003
……e uno datato: note di spesa nel e uno datato: note di spesa nel MsMs.Gal.26.Gal.26
Lecce, 25 aprile 2003
““Datazione” Datazione” del f.128del f.128 f.128
Ms.Gal.72
18/10/1604
v(s), v(t), s(t)
Lecce, 25 aprile 2003
Analisi di miniatureAnalisi di miniatureAnalisi dei pigmenti utilizzati in centinaia di miniature in manoscritti dell’Italia centrale dal XII al XV sec.
Miniatura fine XII secolo
L a p is la z z u l i
0
2 0 0
4 0 0
6 0 0
8 0 0
1 0 0 0
C o
n t
e g
g i
N a
A l
S i
S
K
C a
A z z u r r i t e
0
1 0 0 0
2 0 0 0
3 0 0 0
4 0 0 00
1000
2000
3000
4000
5000
6000
7000
8000
9000
E n e r g ia ( e V )
C o
n t
e g
g i
C u
S iC aC u C u
tempere blu
• evoluzione temporale nell’uso dei pigmenti per i vari colori
• motivazioni per la scelta di materiali più o meno preziosi (ampio uso del lapislazzuli per i testi sacri fin dal XII sec.)
• informazioni su scambi commerciali
Lecce, 25 aprile 2003
Analisi di dipinti su tavola o telaAnalisi di dipinti su tavola o telaLo strato pittorico è deposto su uno strato di preparazione e coperto da un sottile strato di vernice. Esempio: dipinto su tavola inizi 1500
0
100
200
300
400
500
600
3 5 7 9 11 13 15 17
EX (keV)
Con
tegg
i
Fe
Zn
PbCo
0
100
200
3 5 7 9 11 13 15 17
EX (keV)
Con
tegg
i
Fe
Pb
Ca
Cu
Pigmenti blu a) blu di cobalto (CoOAl2O3) e bianco di zinco (ZnO), pigmenti noti dal 1800 punti di restauro!
b) assenza di Co e Zn punti originali; assenza di Cu no azzurrite lapislazzuli? Non si hanno informazioni da spettri PIXE su elementi leggeri (X di bassa energia) a causa della vernice…
a)
b) spettro PIGE
0
50
100
300 350 400 450 500 550E (keV)
Con
tegg
i Na (441 keV)
Lecce, 25 aprile 2003
PIXE differenzialePIXE differenzialeMisure PIXE a diverse energie del fascio per l’analisi di campioni non
omogenei in profondità.Al variare dell’energia dei protoni incidenti cambia il range all’interno
del bersaglio e quindi cambia lo spessore sondato
Un esempio:tavoletta di legno preparata
con un fondo di gesso edipinta con strati di spessore
diverso di lapislazzuli
0200400600800
100012001400
0 1 2 3 4 5
0200400600800
100012001400
0 1 2 3 4 5
0200400600800
100012001400
0 1 2 3 4 5
0200400600800
100012001400
0 1 2 3 4 5
E (keV)
Con
tegg
i
Na
SiAl
S
Ca
energia del fascio decrescenteNa, Al, Si, SCa, S
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Strumentazione portatile (LNS, Catania)Strumentazione portatile (LNS, Catania)
SpettrometroPIXE-α
SpettrometroXRF
sorgente anulare 210Po (α da ∼ 5 MeV)
Fondamentale nel campo dei Beni Culturali: non sempre è possibile studiare un’opera d’arte al di fuori del suo normale luogo di conservazione (perché èinamovibile o per problemi burocratici, rischi, costi…)
3 sorgenti 109Cd (X di 22.1 e 24.9 keV)
3 sorgenti di 55Fe (X di 5.9 e 6.5 keV)
bassa intensità dovuta all’emissione isotropa
misure molto più lunghe rispetto alla strumentazione fissa
• emissione isotropa
• scarsa sensibilità per elementi a basso Z
• difficoltà di analisi quantitativa
Lecce, 25 aprile 2003
Campagna di misure al Campagna di misure al Museo Nazionale del Museo Nazionale del Bargello Bargello (LNS, Genova, Firenze)(LNS, Genova, Firenze)
Analisi di ceramiche robbiane:• studio delle tecniche di produzione• caratterizzazione delle scuole di Andrea,
Luca, figli e imitatori• evidenziate evoluzioni cronologiche
caratterizzanti
As Kβ
Smalti blu
presenza dell’arsenicodopo il 1520
Luca della RobbiaMadonna in adorazione
Lecce, 25 aprile 2003
Politecnico di MilanoPolitecnico di Milano
• In fase di sviluppo uno spettrometro XRF altamente innovativo per mapping elementale:
Fast ELement Imaging with X-ray spectroscopy (Dipartimento di Elettronica, A. Longoni, C. Fiorini)
Strumentazione basata su:– Array monolitico di SDD
• elevata risoluzione energetica• elevata velocità di analisi• elevata risoluzione spaziale• compattezza e facilità operativa
– Tubo a raggi X multi-anodo– Sistema ottico policapillare per la focalizzazione del fascio X eccitante
sorgente X con fibre capillari
rivelatore anulare
campione
• Spettrometro XRF portatile per misure di archeometria, basato su:– Tubo a raggi X miniaturizzato– Silicon Drift Detector per spettroscopia X (FWHM fino a 130 eV
@5.9 keV, a –10 °C ; ritmo di conteggio fino a 100 kHz)
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AcceleratorAccelerator Mass Mass SpectrometrySpectrometry• tecnica molto sofisticata per la determinazione di isotopi
rari in un campionesensibilità fino a una parte su 1015
• misura di 10Be, 14C, 26Al, 129I e altri radioisotopi, di interesse archeologico, geologico, ambientale
• nel campo dei beni culturali datazione di reperti di interesse storico e archeologico con il metodo del radiocarbonio (14C)
Dalla misura della concentrazione attuale di 14C si può misurare l’età di un reperto di origine organica,
cioè il tempo t trascorso dalla morte dell’organismo da cui
proviene0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
1.1
0 5000 10000 15000 20000 25000 30000 35000 40000 45000 50000
t (anni)
conc
entr
azio
ne 1
4C
[14C]0
[14C]0/2
τT1/2
[14C]0/e
ν++→ −eNC 1414
T1/2 = 5730 a
[ ] [ ]
= −τ
tCC 0t exp1414
Lecce, 25 aprile 2003
Misura della concentrazione di Misura della concentrazione di 1414C C • impossibili misure tramite la
spettrometria di massa tradizionaleinterferenze isobariche con 14N, 12CH2, 13CH
occorrono tecniche di conteggio molto delicate ed efficienti e quantità cospicue di materiale
Spettrometria di massa con acceleratori Tandem • sensibilità fino a una parte
su 1015 (eliminazione delle interferenze isobariche)
• misure di attività β
gli atomi di 14C vengono estratti dal campione come ioni negativi;
vengono accelerati fino a energie dell’ordine della decina
di MeV, separati da filtri magnetici ed elettrostatici, e
infine “contati”
+HV
stripping
rivelazione 14C
13C12C
14C
analisi finale
pre-analisi
sorgente (ioni negativi)
• sufficiente una quantità < 1 mg di materiale (misura micro-distruttiva)
• si datano reperti risalenti fino a 50000 anni fa
- - - - + + + +
--
Lecce, 25 aprile 2003
Altre attività al Altre attività al Laboratorio di FirenzeLaboratorio di Firenze
•analisi del particolato atmosferico con tecniche IBA
• canale dedicato al microfascio esterno (dimensioni fino a 10 µm) per misure nel campo dei beni culturali, della
geologia, della microelettronica
•misure di sezioni d’urto
•test di rivelatori per esperimenti di fisica nucleare
Lecce, 25 aprile 2003
Il Laboratorio di tecniche Il Laboratorio di tecniche nucleari applicate ai Beni Culturalinucleari applicate ai Beni Culturaliedificio per la fisica nucleare e subnucleare presso
il Polo Scientifico di Sesto Fiorentino
Lecce, 25 aprile 2003
la sala acceleratore del nuovo edificio
Lecce, 25 aprile 2003
Sistema IBA/AMS Sistema IBA/AMS per il Laboratorio di Firenzeper il Laboratorio di Firenze
Acceleratore Tandem Tensione terminale: 3 MV
Iniettorea doppia
sorgenteper IBA
Spettrometro AMS ad alta energia
Linee di fascio IBA
Iniettore AMS (59 campioni)
• inizio installazione 28 aprile 2003• piena operatività del Laboratorio fine 2003-inizio 2004
Lecce, 25 aprile 2003
Il nuovo acceleratore Tandem (I)Il nuovo acceleratore Tandem (I)sorgenti e macchina acceleratrice
Lecce, 25 aprile 2003
Il nuovo acceleratore Tandem (II)Il nuovo acceleratore Tandem (II)analisi per l’AMS