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AXIOMA - Pisa Alberto Di Lieto Dipartimento di Fisica dell’Università di Pisa INFN – Sezione di Pisa Roma, 29.1.2016

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AXIOMA - Pisa

Alberto Di Lieto

Dipartimento di Fisica dell’Università di Pisa

INFN – Sezione di Pisa

Roma, 29.1.2016

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Stato dell’arte

• Risultati ottenuti con DORELAS (Double Resonance Laser)

– Nd:BYF

– Tm:BYF

• Risultati ottenuti nella crescita di fluoruri monocristallini drogati con ioni di terre rare

2

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DORELAS

3

\

Monochromator

Lock-in amplifierDetector

Crystal

LaserDiode

LaserDiode

lens lens

collecting lens

chopperfluorescence

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0

5000

10000

15000

200004G

7/2 2G

7/24G

5/2 2H

11/24F

9/2 4F

7/2+

4S

3/2

4F

3/2

4I15/2

4I13/2

4I11/2

4F

5/2+

2H

9/2

4I9/2

Nd3+

Energ

y (c

m-1)

A BC

D1 D2

A: Pump@ 808 nmB: Emission@ 1300 nmC : Emission @ 1050 nmD1, D2 : Pump @ 930 nm

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Fluorescence 4F3/24I11/2

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Double Resonace Spectrum Pump : 4I11/2 -----

4F3/2 ( 930 nm)Emission: 4F3/2 ----

4I11/2 (1050 nm)

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Double Resonace Spectrum Pump : 4I11/2 -----

4F7/2 ( 930 nm)Emission: 4F3/2 ----

4I13/2 (1300 nm)

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BaY2F8: 1.8% Nd3+, Nd density: 9.5 x1021 ions/cm3

• Excitated populations: 4I11/2: 1018 ions/cm3

4I13/2 : 2x1017 ions/cm3

• Excitated population by DR4I11/2 --- 4F5/2+

2H9/2 : 4x1015 ions/cm3

4I11/2---4F7/2 : 1014 ions/cm3

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0

5000

10000

15000

20000

25000

30000

3H

6

3F

4

3H

5

3H

4

3F

3

1D

2

1G

4

3F

2

Tm3+

Ene

rgy

(cm

-1)

A

B

C

A:Pump @ 780 nmB: Pump @ 635 nmC: Emission @ 480 nm

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Double Resonace Spectrum Pump : 3F4 -----

1G4 ( 633 nm)Emission: 1G4 ----

3H6 (480 nm)

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BaY2F8: 8% Tm3+, Tm density: 1023 ions/cm3

• Excitated population 3F4: 8x1020 ions/cm3

• Excitated population by DR3F4 --- 1G4: 8x1013 ions/cm3

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Piano Ricerca

• Crescita cristalli (LLF, GLF, YAG, LuAG) drogati con Nd, Pr, Er e Ho

• Confronto tra i diversi materiali in termini di qualita’ ottica/spettroscopica/cristallografica

• Osservazione della catodoluminescenza quando irraggiati con X-ray (continua e impulsata) nella regione 80 – 600 meV

• Confronto tra i diversi materiali in termini di efficienza di catodoluminescenza

• Selezione dei materiali

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Czochralski Furnace – 1

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Czochralski Furnace – 2

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Main body

Rotation&

Pulling

Gate

3 m

Step motor 1

Step motor 2

Endless screw

Puller rod

VACUUM

Diameter controlsystem

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BaY2F8

Crystal Structure: Monoclinic

Space group: C1 2/m

a = 6.9829Å

b = 10.519Å

c = 4.2644Å

b = 99.7°

Melting point 995° C

pulling rate: 0.5 mm/h

rotation rate: 5 RPM

doping density: 1.8at% Nd3+

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YLF crystal - (LiYF4 )

4

• Low phonon energy• Wide transparency window• Good thermal conductivity• Tetragonal structure• Yttrium can effectively be replaced by rare earths• High performances as solid-state laser medium

Crystal Structure: Tetragonal

Space group: I 41/a

a = 5.174Å

c = 10.741Å

Melting Temperature 850° C

pulling rate: 0.5 mm/h

rotation rate: 5 RPM

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mm-PD Growth Technique

Pulling

2.1% Pr3+:LuAG

Length = 142 mm , Diameter = 2.6 mm (+/- 0.1 mm)

LuAG:1%Yb3+

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Setup catodoluminescenza

Crystal sample

Cryocooler 4 - 300 K

X-Ray Source

Cooled Detector

Monochromator

Lens or Fiber

Lock-in Amp. + Computer

Modulatore

Detection Range : 80 - 600 meV

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X- Ray Tube with Pb-shielded cabinet

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Sorgente raggi X

• Oxford Apogee XTF5011• Specifiche

distribuzione angolare isotropa

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Flusso (previsione)

• Flusso integrato vs. corrente anodica(misura con scintillatore plastico)

• Rate tot. = 2.5 x 104 s-1/mA

flusso max. = 1.6 x 105 s-1 sr-1

(nel cono di apertura del tubo)

rate max. = 34 s-1

per sezione = 1 mm2 e distanza = 7 cm dal fuoco degli elettroni

• Stima conservativa, non corretta per assorbimento di raggi X nel wrap dello scintillatore (e in aria)

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Spettro in energia

• Misure effettuate con rivelatore a silicio (Amptek XR-100CR)• Spettro risultante da diverse cause concorrenti:

• un continuo decrescente con end-point all’energia degli elettroni(dovuta a Bremsstrahlung, legge di Kramers)

• righe di fluorescenza caratteristiche del bersaglio(in questo caso linee Kα e Kβ del Cromo a 5412 e 5947 eV rispettivamente)

• taglio a basse energie dovuto all’assorbimento nella finestra di Berillio(E ≈ 2.5 keV, ineliminabile) ed a 60 cm di aria (necessari a moderare il flusso sul silicio)

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Adattamento meccanico

• L’accoppiamento meccanico tra il generatore di raggi X ed il criostato deve essere tale da massimizzarne il flusso sul cristallo

• effetti di materia (con modifica dello spettro) raccordo a tenuta di vuoto con adattamento di flange

• Potrebbe essere opportuno inoltre separare il tubodalla linea di vuoto del criostato per permetterel’estrazione/inserimento del cristallo in modosemplice

• Opzione 1: inserire un’ulteriore finestradi Berillio di spessore analogo (127 μm) nella linea del fascioenergia soglia E ≈ 3 keV (vedi slide prec.)

• Opzione 2: inserire una gate valve per permettere la separazione dei due ambientidurante la sostituzione del cristallo

allungamento linea fascio, riduzione flusso

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Versione pulsata

• Il tubo e la power supply sono predisposti per operare in continua• Per la caratterizzazione dei cristalli sarebbe opportuno modulare il flusso di raggi X• Struttura pulsata con

• periodo > tempo di decadimento (O(1 ms))• durata << “ “ “

• possibili soluzioni:• chopper sulla linea di fascio modifica linea con inserimento elementi ottici impossibile utilizzare un raccordo a vuoto

• controllo in tensione (da investigare con la Oxford) disabilitare la produzione di raggi X durante la diseccitazione del cristallo dump del fascio di elettroni prima che raggiungano il bersaglio idea di intercettare la tensione di controllo della griglia (0 – 100 Vdc all’uscita della

power supply) e di “abilitarla” mediante un opportuno switch CMOS analogico(per tensioni simili sono disponibili integrati dedicati ad applicazioni ultrasound)ad esempio: MAX4800A, (impulsi fino a 200 V , banda passante 50 MHz)

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Persone

• A. Di Lieto (50%)

• D. Nicolo’ (10%)

• M. Tonelli (50%)

• A. Volpi (PhD, 30%)

• G. Cittadino (PhD, 30%)

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