Analisi in aria di un dipinto mediante strumentazione PIXE 1 Capitolo 5.

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Analisi in aria di un dipinto mediante strumentazione PIXE 1 Capitolo 5

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Analisi in aria di un dipinto mediante strumentazione PIXE

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Capitolo 5

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Acceleratore installato nei Laboratori LABEC del dipartimento di Fisica dell’Università di Firenze

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Capitolo 5

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Fascio di protoni in aria3

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Analisi in aria con fascio di protoni focalizzato4

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Analisi PIXE di rocce su Marte5

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XRF

PIXE

Rappresentazione della equivalenza tra analisi PIXE e XRF

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Confronto fra XRF e PIXE7

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Confronto fra XRF, PIXE e SEM8

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Confronto m.d.l. per analisi PIXE e XRF9

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Ampiezza dei segnali e confronto con il fondo10

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PIXE

XRF

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Spettro di elettroni secondari

Distribuzione dell’energia degli elettroni secondari prodotti da protoni di 3 MeV su bersaglio di calcio

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Dipendenza della sensibilità dall’energia dei protoni e da Z

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Esempio della possibilità di discriminazioneofferto dalla tecnica PIXE

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Schema del processo PIXE14

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iiiiiiiA QtEtANeQt 0i 4 I

ii Qtt /Ii

41 0 iiiiAi EANe

Si ottiene

cioè

dove si è definito

PIXE per spessori sottili15

Capitolo 5

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PIXE per spessori non sottili

Si ottiene

Ponendo

dxexEANeQT xT

iiiiiAM tan

0

i 4 I

ESdE

eEANeQT xE

E

iiiiiAM

T

tan/i

0

4 I

ESdE

eE

ET

T

T

xE

E

i

ii

M

T

tan

0

i

0i

0

I

)(I F

si ha infine i

ii FQ

TT

iI

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Resa della fluorescenza Kα per spessori infiniti17

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r

eZEE App

2

0 r

eZUE A

e

2

Ep0 è l’energia cinetica iniziale;

U è l’energia di legame dell’elettrone.

Condizioni energetiche per il modello BEA

Si hanno le energie

dove

Quindi

UEEE epp 0

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Condizioni cinetiche del protone e dell’elettronenel modello BEA

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Correzioni al modello BEAdal fenomenodi doppio urto

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Modelli teorici per la sezione d’urto di ionizzazione con ioni

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Apparato sperimentale per misure PIXE22

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Misure sperimentali PIXE23

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Misure sperimentali PIXE(protoni p e ioni di elio α )

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Misure sperimentali PIXE. Ricerca della soglia25

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Misure PIXE. Confronto fra protoni e deutoni26

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