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Sputtering Sputtering: cariche (accelerate) prodotte da plasma, tipicamente di gas inerte, prodotto in continua (DC) o con radiofrequenza (RF) DC RF

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SputteringSputtering: cariche (accelerate) prodotte da plasma, tipicamente di gas inerte,

prodotto in continua (DC) o con radiofrequenza (RF)

DC RF

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Sputtering (e bombardamento con cariche)

Particelle cariche (ioni o elettroni) vengono accelerati verso la superficie di un target solido --> desorbimento (via numerosi processi) --> vaporizzazione (non solo elementare)

Punti di forza principali:- efficienza anche con materiali “refrattari”, es. ceramiche ed alcuni metalli con alta Tvap- alti rate di crescita (fino a diversi μm/h)

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Magnetron sputtering

Campi magnetici aumentano la ionizzazione dovuta alle collisioni

Principali svantaggi dello sputtering:

- presenza di gas ambiente (per il plasma) --> scarsa purezza

- possibilità backscattering --> danneggiamento del film

- scarsa efficacia di atomizzazione --> scarso controllo della crescita

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Confronto vaporizzazione/sputtering

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Ablazione e deposizione laser impulsata (PLAD)

Interazione fascio laser impulsato/bulk solido--> ablazione (vaporizzazione) localizzata del materiale

Processo impulsato e tempi caratteristici

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Laser medium ArF KrF XeCl XeF

Wavelength (nm) 193 nm 248 nm 308 nm 351 nm

Pulse energy (mJ) 400 600 400 320Average power (W) 10 16 11 8

Gas lifetime (106 pilse) 0.4 1 10 2

Principali laser a eccimeri usati per PLD

Laser tipici nell’UV:- eccimeri (XeCl 308nm, KrF 248nm, ArF 193nm,…)- Nd-YAG 1064 nm (III o IV armonica nell’UV)- impulsi: ~ 10 ns (ma anche sub-ns)- fluenza: 1-5 J/cm2 (cioè centinaia di MW/cm2 )

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Peculiarità PLAD

Energia trasferita dal laser al target

Formazione plasma

Reattività

Molta energia trasferita al film in crescita

Ulteriori vantaggi PLAD:

- elevato tasso di ablazione per laser shot

- elevata energia cinetica particelle ablate

- elevata direzionalità

- possibilità reazioni collisionali (gas ambiente)

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Limiti PLAD

PLAD diffusa in ambito di laboratorio per film di materiali “difficili” (es. ceramiche

supercoduttrici, ferroelettriche, ferromagnetiche, ossidi,...)

Può essere usata anche per formare nanoparticelle (CNT, Si-nanocrystals,…)

Alcuni svantaggi PLAD:

- Ricoprimento di superfici piccole (~ cm2)

- scarsa omogeneità superficiale e

formazione di droplets

-difficile diffusione industriale

- scarsa resa complessiva

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Tecniche chimiche: Chemical Vapor Deposition (CVD)

Nella CVD un gas precursore del materiale depositato viene immesso nel reattore. Quando le molecole vengono in contatto con la superficie, si decompongono e alcuni dei reagenti aderiscono alla superficie.

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La CVD è il metodo di deposizione più usato nella manifattura di IC

CVD isè la crescita di film da fase vapore/gas via reazioni chimiche nel gas e sul substrato:

e.g. SiH4(g) →Si(s) + 2H2(g)

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Possibile schema di crescita di diamante per CVD

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1-2. Viene introdotto nella camera ZrCl4 gassoso. Aderisce alla superficie, ma ha la proprietà di non aderire a se stesso. Quindi il processo si arresta quando è cresciuto un intero strato.2.b. Il gas (ZrCl4) in eccesso viene rimosso dalla camera.3-4. Viene introdotto nella camera H2O gassoso. L’O reagisce con il Zr, formando ZrO2 mentre il rimanente H e Cl rimangono nel gas. Ulteriore ossigeno non può aderire sull’ossigeno. Quindi si ottiene un perfetto monostrato di ZrO2.4.b. I gas rimanenti (H, Cl e H2O in eccesso) vengono pompati via.5. Si ritorna al punto 1, o si termina il processo.

Atomic Layer Deposition

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Deposizioni da soluzione (CSD, MOD)