MEMC - Andrea Laurenzi, Indicatori Sintetici SPC e Report Automatici in Minitab

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Presentazione effettuata in occasione del Meet Minitab 2013

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Indicatori Sintetici SPC e Report Automatici in Minitab

Meet Minitab 2013

Milano, 9 MaggioAndrea Laurenzi: Senior Statistician

P. 2 | MEMC Confidential

Summary

� Presentazione MEMC/SunEdison

� Introduzione

� Problema

� Obiettivo

� Indicatori sintetici SPC

� Esempio di report automatici

� Conclusioni

P. 3 | MEMC Confidential

Business

P. 4 | MEMC Confidential

MEMC/SunEdison nel mondo

Manufacturing Facilities Sales & Support Offices SunEdison

St Peters Missouri (SOI)Pasadena, Texas (1) (POLY)Portland, Oregon (SOL)Merano, Italy (1) (POLY, XTAL)Novara, Italy (LE200)

Kuala Lumpur (LE150)Kuching, Malaysia (SOL)Ipoh, Malaysia (200)Hsinchu, Taiwan (LE300)Chonan, South Korea (LE300)Utsunomiya, Japan (300)

St. Peters, MissouriSanta Clara, CaliforniaSherman, TexasParis, FranceNovara, ItalySingapore

Shanghai, ChinaHsinchu, TaiwanSeoul, South KoreaTokyo, Japan

Toronto, CanadaPrescott, ArizonaSacramento, CaliforniaSan Clemente, CaliforniaSan Francisco, CaliforniaBelmont, CaliforniaDenver, ColoradoBeltsville, MarylandPennsauken, New JerseyPortland, Oregon

San Juan, Puerto RicoSt. Thomas, Virgin IslandsChennai, IndiaSeoul, South KoreaDubai, U.A.EParis, FranceLecce, ItalyMilan, ItalyBarcelona, SpainMadrid, Spain

Utsunomiya, Japan

Ipoh, Malaysia

Merano, Italy (1)

Pasadena, Texas (1)

St. Peters, MissouriNovara, Italy

Kuala Lumpur, Malaysia

Hsinchu, Taiwan

Chonan, South Korea

Kuching, Malaysia

Portland, Oregon

.

(1) Poly operations (Merano operations idled – cost reduction efforts)

P. 5 | MEMC Confidential

SunEdison: >50 anni di storia come leader nella tecnologia

1959 Monsanto Electronic Materials Company (MEMC) formed

1962 Czochralski (CZ) silicon crystal process developed

1965 MEMC develops polishing process for silicon wafers

1975 First commercial production of 100mm wafers

1984 Commercialized 200mm wafers

1989 MEMC acquired by E.ON affiliate

1991 300mm wafers developed

1995 MEMC IPO on the NYSE

2002 Significant 300mm expansion

2004 Crossed $1B revenue mark; acquired Taisil

2005 First 300mm production in Taiwan

2006 Entered the solar PV wafer market on a large scale

2007 MEMC added to S&P 500; began solar wafer deliveries

2009 Acquired SunEdison and expanded into solar energy market

2010 Acquired Solaicx and Continuous Czochralski (CCZ) technology

2011 SunEdison one of the largest global solar PV companies

2013 Proposed change of Company’s name: SunEdison

P. 6 | MEMC Confidential

“MEMC/SunEdison in Italia”

Distance from main cities and airports:

Novara to: km miles

Milan 47 29

Genoa 152 94

Torino 93 58

Malpensa Airport 27 17

Linate Airport 69 43

Merano 347 197

Distance from main cities and airports:

Merano to: km miles

Verona 170 106

Venezia 240 149

Insbruck (A) 148 92

Muenchen (D) 307 191

Malpensa Apt. 341 212

Novara 347 197

P. 7 | MEMC Confidential

“22 anni di eccellenza nella Qualità”

1991

ISO 9001

1999

ISO 14001

2002

EMAS

2003

ISOTS 16949

2007

OHSAS 18001

1999

QS 9000

P. 8 | MEMC Confidential

Area Industriale di Novara

� Total area 79,385 m²

� Covered area 14,150 m²

� Operations area 10,185 m²

Siamo qui

P. 9 | MEMC Confidential

Personale distribuito per funzione

P. 10 | MEMC Confidential

Esperienza del personale

Età media: 42 anni

Più del 50% con >15 anni

Di esperienza nel business del

silicio

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Fasi del processo produttivo

P. 12 | MEMC Confidential

Reparti di produzione

Final Polishing

P. 13 | MEMC Confidential

Reparti di produzione

Final Cleaning

P. 14 | MEMC Confidential

Reparti di produzione

Double Side Polishing

P. 15 | MEMC Confidential

Introduzione

� L’obiettivo dell’azienda è realizzare prodotti a:

• Basso costo

• Alta qualità

• Alta affidabilità

P. 16 | MEMC Confidential

Introduzione

� Capire e migliorare la qualità è uno dei fattori di

successo del business e dell’aumento della

competitività.

� Il termine qualità può essere definito in diversi modi.

P. 17 | MEMC Confidential

Introduzione

� La tradizionale definizione si basa sulla nozione che i

prodotti devono incontrare le richieste (requirements)

del cliente.

P. 18 | MEMC Confidential

Introduzione

� Una definizione alternativa di “quality of conformance” è

l’inverso della variabilità.

� Poichè la variabilità è un termine tipicamente statistico, i

metodi statistici sono fondamentali per migliorare la

qualità.

P. 19 | MEMC Confidential

Introduzione

� Il controllo statistico di processo (SPC) produttivo è un

insieme di strumenti atti a controllare la stabilità del

processo e migliorarne la produttività attraverso la

riduzione della variabilità.

P. 20 | MEMC Confidential

Problema

� Il macro processo aziendale delle società di

semiconduttori è costituito da centinaia di micro processi

utilizzati per arrivare al Prodotto finale.

ProcessInputs OutputsProcess

Inputs OutputsProcessInputs OutputsProcess

Inputs OutputsProcessInputs OutputsProcess

Inputs Outputs

P. 21 | MEMC Confidential

Problema

� Elevato numero di carte di controllo (10000-50000).

� Problema economico: allocare le risorse limitate in

modo da migliorare la qualità dei processi.

P. 22 | MEMC Confidential

Obiettivo

1. Introdurre indicatori sintetici SPC per valutare la

performance dei processi.

• Questi indicatori forniscono un linguaggio semplice per

quantificare le prestazioni del processo ed aiutano gli

ingegneri a focalizzare le risorse.

• Permettono di controllare ogni mese la salute del processo.

P. 23 | MEMC Confidential

Obiettivo

• Gli indicatori sintetici sono:

Cpk: valuta la capacità dl processo;

%OOC: misura il carico di lavoro;

P : valuta l’adeguatezza dei limiti di controllo;

Sp : valuta la stabilità in media del processo

• Gli indici P e Sp sono nuovi indicatori.

2. Creare report automatici con macro sviluppate in Minitab.

P. 24 | MEMC Confidential

Indicatori sintetici SPC

� Indice P

dove UCL e LCL sono i limiti di controllo

• P=1 i limiti di controllo sono ben settati;

• P>1 i limiti di controllo sono troppo ampi;

• P<1 i limiti di controllo sono troppo stretti.

σ6

LCLUCLP

−=

P. 25 | MEMC Confidential

Indicatori sintetici SPC

� La funzione di densità di probabilità dell’indice P è:

2

1

−≈

n

nPP

χ

P. 26 | MEMC Confidential

Indicatori sintetici SPC

• non bisogna ricalcolare i limiti di controllo;

• i limiti di controllo sono troppo ampi;

• i limiti di controllo sono troppo stretti;

26.1ˆ8.0 ≤≤P

26.1ˆ >P

8.0ˆ <P

P. 27 | MEMC Confidential

Indicatori sintetici SPC

� Indice Sp

� di conseguenza lo stimatore di Sp è:

22

2

)(

)(

σµ

µ

+−

−=

T

TSp

22

2

)(

)(ˆSTX

TXS p

+−

−=

P. 28 | MEMC Confidential

Indicatori sintetici SPC

• il processo ha problemi di stabilità in media;

• il processo è centrato.

5.0ˆ ≥pS

5.0ˆ <pS

P. 29 | MEMC Confidential

Esempio di report automatico con macro in Minitab

I limiti di controllo sono bensettati.

Processo che ha problemi distabilità negli ultimi 5 mesi.

P. 30 | MEMC Confidential

Esempio di report automatico con macro in Minitab

Monthly time frame

P. 31 | MEMC Confidential

Conclusioni

� Gli indicatori sintetici forniscono un linguaggio semplice perquantificare la salute del sistema SPC.

� Permettono di focalizzare al meglio le risorse con conseguenteimpatto sui costi.

� Studiate le proprietà statistiche dei nuovi indicatori P e Sp.

� Sviluppate macro in Minitab per produrre report automatici daanalizzare e discutere negli SPC meeting (mensili) di reparto.

どうもありがとうどうもありがとうどうもありがとうどうもありがとう。。。。

감사합니다감사합니다감사합니다감사합니다

謝謝謝謝謝謝謝謝

TERIMA KASIH

GRAZIE

THANK YOU

P. 33 | MEMC Confidential

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